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sims[二次离子质谱]介绍 了解sims[二次离子质谱]的详细内容

展开全部 通过一次离子溅射,SIMS可以对样品进行质谱分析、深度剖析或成二次离子像.1、SIMS具有很高的元素检测灵敏度以及在表面和纵深两个方向上的高空间分辨本领,所以其应用范围也相当广泛.涉及化学、生物学和物理学等基础研究领域及微电子、催化、新材料开发等各个领域.2、二次离子质谱法对于大部分元素都有很高的探测灵敏度,其检测下限可达百亿分之几的数量级.对痕量组分能进行深度剖析,可在微观(μm级)上观察表面的特征,也可以对同位索进行分析和对低原子序数的元素(如氢、锂、铍等)进行分析.①痕量分析二次离子质谱法有极高的分辨率,可以达到十亿分之几的数量级.因此,可以对痕量的物质做出定性分析以确定其在表面的存在.当然进行这种分析要求排除所有可能影响结果的干扰.防止表面吸附物污染被测试表面,测试要在高真空和高纯度的离子束条件下进行.②定量分析定量分析采用的是以标样为基础的分析方法.一次离子的种类、能量和电流密度、样品环境、探测器效率以及二次离子分析器的能带通道确定之后,就能使用元素的相对灵敏度系数对样品进行确切的分析.只要二次离子质谱仪的灵敏度足以探测到基体的所有主要成分,所得结果就是这种基体材料成分的原子百分比.③深度分析深度分析的一般方法是监控样品中某元素的二次离子信号随溅射时间的变化.对于均匀基体材料,通过适当的标定试验(已知镀层厚度、陷口深度等)就能把时间转换为深度.元素的定量可以由二次离子强度的变化及二次离子强度定量分析方法得到www.shufadashi.com*�ɼ*�

二次离子质谱(secondary ion mass spectroscopy),是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器,它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子,就可以得到关于样品表面信息的图谱。

SIMS 目前还没有国内的公司可以生产!所以你要买的肯定都是国际品牌的。CAMECA 的SIMS 用的是磁质谱质量分析器。还有德国的ION-TOF,用的是飞行时间质谱。两个公司的产品各有千秋,需要根据具体分析需要。

原理

sims[二次离子质谱]用一次离子束轰击表面,将样品表面的原子溅射出来成为带电的离子,然后飞行时间或者磁偏转质谱仪分析离子的荷/质比,便可知道表面的成份;

包括:火花源双聚焦质谱仪(SSMS)、感应耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、二次离子质谱仪(SIMS)等。三、同位素质谱仪: 包括:进行轻元素(H、C、S)同位素分析的小型低分辨率同位素质谱仪和进行重元素

它是一种非常灵敏的 表面成份分析手段,对某些元素可达到ppm量级;但由于各种元素的二次离子差额值相差非常大,作 定量分析非常困难。

展开全部 一、飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)原理及其特点 用于下古生界海相烃源岩单组分研究的二次离子质谱仪器为美国Charles Evans and Associates公司生产的飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),属于

二次离子质谱仪,是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成,其信息量也远远超过了简单的元素分析,可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中,它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析,生成一个表面成分图。

展开全部 二级离子质谱分析法(Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS)一般有两种类型:Cameca f-系列和SHRIMP系列(Sensitive High Mass Resolution Ion MicroProbe)(Valley&Graham,1992;Valley et al.

展开全部 1.基本原理636f70797a686964616f31333433616238二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrum,SIMS),又称离子探针(Ion Probe Analyzer,IPA),是目前微区原位分析最精确的技术。其原理是通过高能一次离子轰击样品靶产生的二次离子,对样品的同位素组成进行分析。SIMS锆石U-Pb同位素定年方法是根据被测样品与相应标准矿物的二次离子中U-Pb同位素的强度关系,便可计算出被测样品微区的U-Pb含量和U-Pb同位素年龄。2.样品要求(1)样品采集时,要了解被测对象的地质特征、形成条件和岩石成因,了解岩石的结构构造、岩相学与岩石学信息。要采集尽可能新鲜的岩石样品,不要有其他岩性混入。对采样点要做好记录和照相等。要进行显微薄片研究,了解锆石与其他造岩矿物之间相互关系。(2)单矿物锆石挑选切忌污染,特别是碎样过程中要确保设备干净,通常可采取专门工具手工碎样或专门碎样设备。(3)由于不同岩性样品含有的锆石量不同,因而要根据样品性质采集足够的样品量以满足锆石的挑选。3.地质应用目前SIMS锆石U-Pb年龄精度可达1%,空间分辨率为10~30μm,最新技术发展已将空间分辨率提高至小于5μm,年龄的精确度和准确度依然能稳定在1%~2%之间。由于该技术具有这些优势因而能够直观地揭示锆石内部结构,提供了锆石成因类型及相应岩体经历的演化历史等信息,尤其为核边类型锆石的原位微区定年提供了准确的信息,从而运用于岩浆事件的年代学约束研究中。*www.shufadashi.com*ɼ*�

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